反射式膜厚測量?jì)x

更新時(shí)間：2024-08-16

簡(jiǎn)要描述：

A3-SR系列反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場(chǎng)合。

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反射式膜厚測量?jì)x

A3-SR 系列反射式膜厚測量?jì)x可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR系列可用于測量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。在折射率未知的情況下，A3-SR 還可用于同時(shí)對折射率和膜厚進(jìn)行測量。配手持式探頭,A3-SR 可以用來(lái)一鍵式測量車(chē)燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量?jì)蕊椉?/span>,外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

此外，A3-SR 還可用于測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以?xún)?。A3-SR進(jìn)行測量簡(jiǎn)單可靠，實(shí)際測量采樣時(shí)間低于1秒。配合我們的Apris SpectraSys 軟件進(jìn)行手動(dòng)測量，每次測量時(shí)間低于5秒。Apris SpectraSys支持50層膜以?xún)鹊哪Ｐ筒⒖蓪Χ鄬幽ず駞颠M(jìn)行測量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數據庫，同時(shí)支持函數型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。

同時(shí)，客戶(hù)還可以通過(guò)軟件自帶數據庫對材料，菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測量結果。目標應用：半導體鍍膜,光刻膠玻璃減反膜測量藍寶石鍍膜,光刻膠ITO 玻璃太陽(yáng)能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚，顏色測量卷對卷柔性涂布光學(xué)膜其他需要測量膜厚的場(chǎng)合

產(chǎn)品型號和系統設置：

產(chǎn)品型號	A3-SR-200
產(chǎn)品尺寸	W270D217（H90+H140）測試支架
測試方式	紫外+可見(jiàn)+UV+VIS 反射(R)
波長(cháng)范圍	250-1050納米
光源	鎢鹵素燈+氘燈鹵素燈標稱(chēng)壽命10000小時(shí),氘燈標稱(chēng)壽命1500小時(shí)
光路和傳感器	光纖式(FILBER )+進(jìn)口光譜儀
入射角	0 度 (垂直入射) (0 DEGREE)
參考光樣品	硅片
光斑大小 LIGHT SPOT	About 1 mm（標配，可以根據用戶(hù)要求配置）
樣品大小 SAMPLE SIZE	10 mm TO 300 mm (可以根據用戶(hù)要求配置)

膜厚測量性能指標（THICKNESS SPECIFICATION）：

產(chǎn)品型號	A3-SR-200
厚度測量 ¹ Thickness范圍	2 nm - 100 （200）um
折射率 ¹（厚度要求） N	50nm and up
準確性 ² Accuracy	2 nm 或0. 5%
精度 ³ precision	0.1 nm

¹表內為典型數值, 實(shí)際上材料和待測結構也會(huì )影響性能

2 使用硅片上的二氧化硅測量，實(shí)際上材料和待測結構也會(huì )影響性能

3 使用硅片上的二氧化硅（500納米）測量30次得出的1階標準均方差,每次測量小于1秒.

軟件(SOFTWARE)：

檢測項目	標準型
層數	10 層
材料	表格型和函數型
粗糙度模型	有
反射/透射	反射型+透射型
材料庫	表格型+函數型
入射角	垂直入射
折射率測量	有